EOLT für Elektro-Wandladestation
End-of-Line Testsystem für Elektro-Wandladestation Mehr erfahren Ohne Ladesäulen keine Elektroautos – und ohne präzise Prüftechnik keine zuverlässige Ladeinfrastruktur. Der Wandel in der Automobilindustrie ist disruptiv: Klassische Komponenten weichen Elektromotoren, Batterien und komplexen Ladeeinheiten. Als Technologieführer für komplexe, mechatronische und vollautomatisierte Testsysteme bietet MCD Elektronik schlüsselfertige Lösungen, die exakt auf die Anforderungen der Elektromobilität zugeschnitten sind. […]
FKT Programmier- & Teststation für Smart-Home-Systeme
Programmier- & Teststation für Smart-Home-Systeme Mehr erfahren MCD Elektronik entwickelte eine Programmier- und Teststation für Smart-Home-Anwendungen. Die Systeme prüfen und programmieren WLAN- und ZigBee-Platinen effizient, zuverlässig und vollautomatisch – inklusive Frequenzabgleich, Funktionsprüfung und Datenbankanbindung für maximale Prozesssicherheit in der Serienproduktion. Herausforderungen und Konzept Im Smart Home erwarten Nutzer eine zuverlässige und störungsfreie Kommunikation zwischen Heizungsanlage, […]
EOLT Smart DC Energy Meter
END-OF-LINE-TESTER FÜR smarte DC Energy Meter Mehr erfahren Der E-Mobilitätsmarkt erfordert bis 2030 rund eine Million Ladepunkte. Um sicherzustellen, dass DC Energy Meter für Ladesäulen präzise und eichrechtskonform arbeiten, entwickelte MCD Elektronik ein modulares Testsystem zur umfassenden Prüfung und Verifizierung der Geräte. Herausforderungen und Konzept Die Entwicklung des modularen Testsystems erfolgte in enger technischer Abstimmung […]
EOLT Smart Meter Gateway
End-of-Line Testsystem für Smart Meter Gateways (SMG) Mehr erfahren Ein Smart-Meter-Gateway (SMGW) erfasst, verarbeitet und überträgt Energiedaten sicher und verschlüsselt an Versorger. Für eine exakte, eichrechtskonforme Abrechnung entwickelte MCD Elektronik ein modulares Testsystem für DC Energy Meter. Auf Basis der VTS 2030 Plattform erfolgt die automatisierte Programmierung und Funktionsprüfung unter Hochstrom. Duale Prüfverfahren verkürzen die […]